But
Imagerie de surfaces à haute résolution spatiale avec contraste topographique et/ou chimique
Exemples d’application
Imagerie structurale, de défauts, état de surface, corrosion, etc.
Possibilités et restrictions
- Possibilité de coupler avec la microanalyse EDS
- Résolution spatiale jusqu’à quelques nm
- Analyse non destructive de surfaces solides ou sur coupe métallographique
- L’échantillon doit être conducteur ou doit pouvoir être rendu conducteur par déposition d’une très mince couche métallique
- Dimension max. de l’échantillon: jusqu’à quelques cm.
Équipements
JEOL JSM-6400.
